绝对灵敏度测长法

作者：admin 发布时间：2015-10-28 9:25:39 人气：

　　在仪器灵敏度一定的条件下，当发现缺陷时(不一定要求回波达到最高)，沿缺陷长度方向平行移动，若回波高度降到某一规定位置，则探头所移动的距离即为缺陷的指示长度。指示长度与测长灵敏度有关，测长灵敏度越高，缺陷所测得的指示长度就越大。

　　c底波高度法通过测试的缺陷回波高与底波高比值的不同，来衡量缺陷的相对尺寸大小。若工件中存在缺陷，将会使底波高度下降，且缺陷越大，缺陷回波越高，底波高度则越低，缺陷回波高与底波高的比值越大。缺陷回波高与底波高之比的表示方式有以下两种。

　　F／D法在一定灵敏度条件下，以缺陷波高F与缺陷处底波高B之比来表示缺陷的相对大小。

　　F／5c法在一定灵敏度条件下，以缺陷波高F与无缺陷处底波高BG之比来衡量缺陷的相对大小。

　　底波高度法不用试块，可直接利用底波调节灵敏度并比较不同缺陷的大小。操作简单方便，但不能给出缺陷的当量尺寸。同样尺寸的缺陷，距离不同，F／B不同，距离小则F／B大，因此F／B相同缺陷当量尺寸并不一定相同。此法只适用于具有平行底面的工件。

　　还应指出，对于较小的缺陷，一次底波B往往饱和，对于密集型缺陷，往往缺陷波不明显，这对于F／B法和F／B‘法就不适用了，但这时可以借助底波的次数来判定缺陷的相对大小和缺陷的密集程度，底波次数少则缺陷尺寸大或密集程度严重。底波高度法可用来测定缺陷的相对大小、密集程度、材质晶粒度和石墨化程度等。

　　缺陷的定量可参见图3—15中缺陷长度A的确定过程。缺陷长度A的测量可使用6dB沽虚端占6dB法。